三豐標準量具光學平面平晶

一、產品名稱：平面平晶

二、產品別名：光學平晶，_平晶，二級平晶，平晶，光學晶體等。

三、產品規格：30  45  60  80  100  150  200  250  300  400  500  600mm，非標準規格可以訂做。

四、平面平晶的使用原理： 平面平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現的干涉條紋來測量被測量面的平面度。

五、平面平晶的用途：平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件，例如，平面光學零件、_平臺、平板、導軌、密封件等。平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標準平面和樣板。

六、產品的使用：測量時，把平晶放在被測表面上，且與被測表面形成一個很小的楔角，以單色光源照射時會產生干涉條紋。干涉條紋的位置與光線的入射角有關。如入射光線垂直于被測表面﹐且平晶與被測表面間的間隙很小﹐則由平晶測量面P 反射的光線與被測表面反射的光線在測量面 P 發生干涉而出現明或暗的干涉條紋。若在白光下，則出現彩色干涉條紋。如干涉條紋平直，相互平行，且分布均勻，則表示被測表面的平面度很好；如干涉條紋彎曲﹐則表示平面度不好。

平面平晶的干涉條紋平直則表示平面好.如果是彩色光圈一圈則是0.3微米,如看到不是一圈而是多圈則用所看到的圈數乘以0.3則是它的平面度.如是弧形則表示是0.3以下.

_簡單的方法，在測量時讀出明暗條紋的條紋數（明或暗，一般讀出暗條紋的個數即可）乘以0.3，結果即是平面度。（單位為um）